产品简介:CMI980系列能够执行膜厚量测及元素分析。使用高解析度检测器提高元素量测之精度及膜厚量测之准确度，使用小准直器对於小点可以进行元素分析，也可对於产品进行扫描後显示有害元素的组成及含量分布图。
适用产业:用於电子元件、半导体、PCB印刷电路板、汽车零件、功能性电镀、连接器、装饰
X-Strata980结合了大功率X射线管和高分辨率探测器，能够满足多镀层、复杂样品和微小测试面积的检测需求。这款仪器的电制冷固态探测器确保极佳的信/躁比，从而降低检测下限。探测器分辨率极高，能更容易地识别、量化和区分相邻的元素。有害元素检测结果可精确到ppm级，确保产品满足环保要求，帮助企业降低高昂的产品召回成本和法令执行成本。您可以针对您的应用选择最合适的分析模型：经验系数法、基本参数法或两者结合。这款仪器能对电子产品上的关键组装区域进行快速筛选性检测。一旦识别出问题区域，即可对特定小点进行定量分析。大型样品舱能够灵活地检测大件或形状不规则的样品，大舱门使样品更易放入。
- 100瓦X射线管
- 25mm2PIN 探测器
- 多准直器配置
- 扫描分析及元素分布成像功能
- 灵活运用多种分析模型
- 清晰显示样品合格/不合格
- 超大样品舱
- 同时分析元素含量和镀层厚度
应用
-RoHS/WEEE
-有害元素痕量分析
-焊料合金成分分析和镀层厚度测量
-电子产品中金和钯镀层的厚度测量
-五金电镀、CVD、PVD镀层的厚度测量
-贵金属合金分析和牌号鉴定